McKay Gordon | Mail Code SN4, Planetary Science Branch, NASA-Johnson Space Center
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概要
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論文 | ランダム
- FIB-TEMシステムの金属材料への応用
- FIB試料の最近の進歩 (新手法--21世紀に向けて)
- 集束イオンビ-ム加工法で作製した材料の透過電子顕微鏡による観察 (電子・イオン技術を用いた表面観察・分析の新展開)
- マイクロ波イオン源とその応用
- コイルを組み合わせた開口部を有する磁気シールドの検討