SHERBY Oleg | Emeritus, Department of Materials Science and Engineering, Stanford University
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概要
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論文 | ランダム
- ガス濃縮法を組み込んだセンサシステムの検討
- Capture Cross Section of Electric-Stress-Induced Interface States in (100) Si Metal/Oxide/Semiconductor Capacitors
- ナノサイズ酸化スズ水熱処理ゾルから作製した薄膜のセンサ特性に及ぼす粒子径および膜厚の影響
- Surface Structure of Zr-O/W(100) System at 1700 K
- 酸化ビスマス薄膜のエレクトロクロミック特性と表面構造--アルカリおよびアルカリ土類添加による消色特性の改善