Kim Dong-Wan | Dept. of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA 02139, USA
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概要
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- Dept. of Materials Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA 02139, USAの論文著者
論文 | ランダム
- ディジタルX線撮影システムの画質特性の評価における測定の実際 : Flat panel detector system を中心に
- (2)リサンプリングの影響(画像について語ろう,ディジタルラジオグラフィの画像評価の現状と課題-解像特性について-)
- (1)RSNA2006に参加して(国際会議報告)
- 451 回転DSA撮影におけるmisregistrationに影響を与える機械的因子の検討
- 27.文化系学生の放射線関連用語に対する認識(九州部会)