THALMEIER Peter | Inst. f. Theoret. Phys., Universitat Gottingen
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概要
論文 | ランダム
- Effect of Lateral Displacement of Atomic Force Microscope Tip Caused by Contact Scanning Studied by In Situ Transmission Electron Microscopy
- すべり摩擦・摩耗機構の分子動力学解析 : ゼロ摩耗-摩耗遷移領域の挙動
- Stick-Slip Motion and Phase Transition in a Block-Spring System(General)
- 411 摩擦力顕微鏡による原子摩擦過程の分子動力学シミュレーション
- [パネル講演1]建築物の減衰(パネル討論会 : 構造物の動設計と減衰値(建築,土木,機械の実例))