Yue Jeffrey | Center For Integrated Circuit Failure Analysis And Reliability Department Of Electrical And Computer Engineering National University Of Singapore
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概要
- 同名の論文著者
- Center For Integrated Circuit Failure Analysis And Reliability Department Of Electrical And Computer Engineering National University Of Singaporeの論文著者
論文 | ランダム
- 極低温流体の熱流動現象の可視化手法
- He II二次元流路における熱伝達特性 : He I相の影響
- 狭小二次元流路中のHe II膜沸騰現象における蒸気泡挙動の変化
- 狭小2次元流路中の沸騰開始における圧力依存性
- 狭小2次元流路中の発熱によるHe II相転移現象の可視化