Tsang L. | Epithelial Cell Biology Research Center Department Of Physiology Faculty Of Medicine The Chinese University Of Hong Kong
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概要
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論文 | ランダム
- 高エネルギーX線によるひずみスキャニング法のための新しい三軸応力解析法の開発(S06-2 材料内部の非破壊応力評価,S06 放射光による応力測定と残留応力評価)
- 206 高次光を利用した高エネルギーX線による放射光応力測定法の開発(中性子,放射光による応力測定,残留応力の評価と強度,オーガナイスドセッション3,第53期学術講演会)
- Ge濃度を制御したSi_Ge_xの格子定数測定
- 収束電子回折法によるSiの電子密度分布解析
- 放射光を用いたGA合金化反応のその場観察