Chen Sheng-hsiung | Department Of Electronics Engineering National Chiao Tung University And National Nano Device Laboratory
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概要
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論文 | ランダム
- 平板における疲れ亀裂の発生・伝播に伴う履歴現象 第2報 (平板における履歴現象)
- 平板における疲れ亀裂の発生・伝播に伴う履歴現象 第1報 (平板における履歴現象)
- 耐久限度以下の応力を含むプログラム荷重のもとでの疲れ寿命の推定について
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- 焼なましした鋼の疲れ強さに及ぼす重畳高調波応力の影響