Rikitake Yoshiaki | Crest-jst:nanotechnology Research Institute National Institute Of Advanced Industrial Science And Te
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概要
- 同名の論文著者
- Crest-jst:nanotechnology Research Institute National Institute Of Advanced Industrial Science And Teの論文著者
Crest-jst:nanotechnology Research Institute National Institute Of Advanced Industrial Science And Te | 論文
- 21aHL-11 電子スピン状態トモグラフィ測定の基底依存性の実験的検証(21aHL 励起子・ポラリトン,領域5(光物性))
- 21aHL-12 タイムビン光子から半導体中の電子スピンへの状態転写の実験(21aHL 励起子・ポラリトン,領域5(光物性))
- 27aPS-26 磁気光学効果による半導体量子井戸の吸収率変化を利用した電子スピンのコヒーレンス測定(領域5ポスターセッション,領域5,光物性)
- 28pVA-14 磁気光学カー効果による電子スピン状態トモグラフィ測定(28pVA 励起子・ポラリトン,領域5(光物性))
- 28pVA-13 光から電子スピンへのコヒーレンス転写の忠実度についての考察(28pVA 励起子・ポラリトン,領域5(光物性))