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高野 哲寿 | 東京都産業技研
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東京都産業技研 | 論文
PIXE法の工業材料への適用
イオン加速器を用いた複合イオンビーム分析法の開発
2L02 PIXE法による降下ばいじんおよび浮遊粒子状物質の元素分析(II) : PIXE分析用捕集装置の開発
2L01 PIXE法による降下煤塵および浮遊粒子状物質の元素分析(I) : ベータ線式質量濃度計捕集済み濾紙のPIXE分析
イオン加速器を用いた汎用非透過型PIXE分析法の開発
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