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小幡 智 | 日本テキサス・インスツルメンツ(株)
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日本テキサス・インスツルメンツ(株) | 論文
粘弾性積層体の残留応力を求める簡易評価法
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811 半導体デバイス用エポキシ系エラストマの熱劣化挙動
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