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平川 聡 | 福菱セミコンエンジニアリング
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福菱セミコンエンジニアリング | 論文
高破壊耐量ワイドセルピッチ1200V NPT-IGBT(CSTBT)
電流センス付きIGBTの電流検出用ユニットセルにおける過渡ピーク電流解析と抑制法
ダイレクトリードボンディング型MOSFET/CSTBTの開発
6.5kVプレーナー形IGBTチップの開発
6.5kV級IGBT (特集「パワーデバイス技術の最前線」)
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