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De O. | Instiluto De Fisica De Sao Carlos Universidade De Sao Paulo
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論文 | ランダム
エネルギーフィルター型RHEED-AESによる表面研究
RHEED波動場によるオージェ電子強度変化
Si(111) 7×7 基板上に成長する CaF_2 薄膜表面形態の AFM 観察
EF-RHEED図形内の微傾斜Si(001)表面ステップ情報
エネルギーフィルター型RHEED図形内の振動相関熱散漫散乱
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