成瀬 幹夫 | 日本電子(株)開発部

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概要

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• 日本電子(株)開発部の論文著者

日本電子(株)開発部 | 論文

• 帯電液滴衝撃(EDI)エッチング法によるポリマーのSIMS、XPSの深さ方向分析 (2009年度実用表面分析講演会(PSA-09)講演資料)
• X線光電子分光深さ方向分析用帯電液滴エッチング銃の開発
• 帯電液滴エッチング法によるPETフィルムのXPS深さ方向分析
• クラスター二次イオン質量分析計の展望--帯電液滴衝撃/二次イオン質量分析計の進展
• 全反射X線光電子分光法による微量元素分析

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