黒田 道生 | 東洋エンジニアリング応用解析部
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概要
論文 | ランダム
- 22pXG-10 C_ 薄膜 FET の紫外光電子分光
- 26aYK-15 ナノスケール物質の機械的性質(強度、破壊)の計算(26aYK 格子欠陥・ナノ構造(アモルファス・転位・シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 高専から学生特許100件を目指そう : 創造教育による価値作りが高専の存在意義(徳山工業高等専門学校校外発表論文,学術講演,著書,分担執筆など)(平成14年・9・6〜平成15年・9・5)
- 24pYM-2 温度格子グリーン関数法を用いたクラック進展過程の解析IV(格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- 27aXT-8 温度格子グリーン関数法を用いたクラック進展素過程の解析 : 格子トラップ及び転位放出効果III(格子欠陥・ナノ構造)(領域10)