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高橋 良治 | Necビューテクノロジー
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212 画像計測における誤差低減手法(OS-1 工学のプロセス:試行錯誤とヒューリスティック)
位相シフトディジタルホログラフィ干渉法による変形計測(OS8-2 光学的手法,OS8 実験力学の新たな発展)
位相シフトデジタルホログラフィを用いた面外変位計測
423 位相シフトデジタルホログラフィによる面外変位計測
位相シフトデジタルホログラフィを用いた段差のある物体の変位計測
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