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Lan Sheng | 筑波大 物理工学系
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筑波大 物理工学系 | 論文
不純物に起因するポテンシャル揺らぎの電子移動度への影響
統計的解析によるPoly-Si TFTの結晶粒界の影響の評価(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
統計的解析によるPoly-Si TFTの結晶粒界の影響の評価(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
デバイス・シミュレーションとその物理
不純物に起因するポテンシャル揺らぎの電子移動度への影響
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