Sun J | 産業技術総合研 計量標準総合セ
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概要
産業技術総合研 計量標準総合セ | 論文
- RF領域におけるベクトルネットワークアナライザの残留不確かさ評価
- ベクトルネットワークアナライザ残留方向性評価方法の検証 : リップル法とベクトル法
- ベクトルネットワークアナライザ残留方向性評価方法の検証--リップル法とベクトル法
- C-2-123 ベクトルネットワークアナライザの不確かさ評価法に関する検討(C-2.マイクロ波C(マイクロ波・ミリ波応用装置),一般セッション)
- B-4-62 Type-N50コネクタSパラメータ標準の開発と供給(B-4.環境電磁工学,一般セッション)