大出 祥幸 | 日本歯大 小児歯科

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概要

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論文 | ランダム

• ペンデル干渉法--Si結晶の電子分布 (精密構造解析と電子密度分布)
• 結晶学の将来のために (日本結晶学会創立30周年記念特別号)
• X線回折顕微法による結晶完全度の研究(Growth and Characterization of Silicon Crystals)
• 海外における放射光利用計画および現状--FranceにおけるSOR計画 (フォトン・ファクトリ-計画)
• 回折現象の基礎 (フォトン・ファクトリ-計画)

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