KOBAYASHI Toshiro | Department of Metallurgical Engineering, Nagoya University
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概要
論文 | ランダム
- 1D12 液晶セル基板におけるラビング軸の同定と界面アンカリング精密測定法(トピカルセッション-ソフトマターと液晶-, 2005年日本液晶学会討論会)
- 光ルミネッセンス法による照射食品の迅速測定とその特性
- 斜め入射透過偏光解析法による液晶セルの評価
- 照射食品検知の紙類によるスクリーニング法
- 照射粉末食品の光ルミネセンス法による検知