TOYODA Shin | Dept. Appl. Phys., Okayama Univ. of Science
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概要
論文 | ランダム
- 28p-ZG-12 半導体AFM探針を用いたエバネッセント光による力の検出
- 30a-PB-18 Si(111)7×7再構成表面における非接触AFM測定での深針-試料間相互作用の研究
- 30a-PB-17 非接触モードAFMによるSi(100)2×1再構成表面の原子分解能観察
- 27a-Z-10 非接触モード原子間力顕微鏡によるエバネッセント場の検出
- 28p-S-2 非接触モードAFMによるSi(111)7x7再構成表面の原子分解能観察