神谷 秀博 | 東京農工大学大学院・工学研究院・生物システム応用科学府
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概要
論文 | ランダム
- 345 中性子照射などにより延性が低下する場合の延性破壊条件(OS10-3 照射劣化,溶接部評価,OS10 エネルギー機器の経年変化に関する健全性評価手法の開発とその適用(2))
- 344 中性子照射などにより延性が著しく低下する場合の構造健全性確保の概念(OS10-3 照射劣化,溶接部評価,OS10 エネルギー機器の経年変化に関する健全性評価手法の開発とその適用(2))
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