中川 英之 | (財)高輝度光科学研究センター
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概要
(財)高輝度光科学研究センター | 論文
- 26pXA-4 軟X線領域における水吸着Si(OOl)表面からのSi 2p 光電子脱出深度の測定(光電子分光(表面・薄膜・低次元物質II),領域5,光物性)
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