鈴木 真夫 | アイテク技術開発株式会社

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概要

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論文 | ランダム

• Surface texture and roughness of polished nanofill and nanohybrid resin composites
• Characterization of the gate-voltage dependency of input capacitance in a SiC MOSFET
• 4H-SiC JBSダイオードの逆方向特性に影響を与える表面欠陥の解析
• 高温アニールによる4H-SiCエッチング形状変形の異方性
• SiCウェハ製造に関する最近の動向

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