大日向 康秀 | 科学技術振興機構さきがけ|理研CDB

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概要

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論文 | ランダム

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• The OFF-State Leakage Current in Ultra-Thin SOI MOSFET's
• Estimation of Dynamic Stress Intensity for One-Point Bend Specimen by Inverse Analysis(Fracture Mechanics)
• 141 INVERSE ANALYSIS ON IMPACT OF ONE-POINT BEND SPECIMEN
• 電子透かしによる著作権保護と放送

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