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IWANO Hideki | Kyoto Fission–Track Co., Ltd
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5p-LT-4 スワール欠陥を有するSi中の電子・正孔液滴
"フォトルミネッセンス法によるシリコン結晶の評価"〔応用物理47(4)〔′78.4〕掲載〕へのコメント〔付 コメントに対する著者の見解〕
11p-Y-14 イオン打込みで作ったGaP中のNN線
6a-KL-15 イオン打込み法によるアモルファスGaPの性質
大動脈炎症候群の1例
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