寺井 仁 | 名古屋大学大学院情報科学研究科|JST CREST

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概要

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論文 | ランダム

• nano-Probeシステムの開発(第3報) -分解能の向上-
• カラーパターン投影を用いた三次元形状測定
• 多価パターン投影による3次元形状測定(第9報)-投影パターンの検討-
• 多値パターン投影による三次元形状測定(第8報)-微小測定物への対応(2)-
• 多値パターン投影による3次元形状測定(第7報) -微小測定物への対応-

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