坂上 修 | 野菜試験場盛岡支場|現在: 野菜・茶業試験場施設生産部
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概要
論文 | ランダム
- 端面近傍に電流非注入領域を有する100mW高出力半導体レ-ザ (オプトデバイス特集)
- 写真のセンシトメトリー,画像測定および観察条件
- 銀塩写真の感度の限界は--感度とSN比のかかわり合い (銀塩写真の極限を探る)
- 数式モデルを用いたDetective Quantum Efficiencyの簡便な計算法
- 数式モデルによる写真特性曲線の近似-7-露出の異なる2枚の画像から求めた写真特性曲線-2-ステップ・タブレットを通して露光された画像