木下 翔平 | 日本電気(株) 中央研究所 価値共創センター
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概要
論文 | ランダム
- 10p-F-3 Narrow-gap semicnductorsに於る変位型相転移
- 14aM-1 電子-ホノン系に於る格子変形
- Imprinting Bias Stress in Functional Composites
- 排熱回収システムのシリーズ化 : 第1報 貫流型の評価
- Effect of Ge Metal–Insulator–Semiconductor Interfacial Layers on Interface Trap Density near the Conduction Band Edge