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Endo Masayuki | Semiconductor Research Center, Matsushita Electric Ind. Co. Ltd.
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半導体の界面超構造
シンクロトロン放射X線によるアモルファスSi/Ge0.2Si0.8 (111) の界面超構造の観測
X線定在波法による表面・界面の構造解析
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