Hamaguchi Chihiro | Department of Electronic Engineering, Osaka University, 2–1 Yamada–oka, Suita, Osaka 565–0871, Japan

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概要

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• Department of Electronic Engineering, Osaka University, 2–1 Yamada–oka, Suita, Osaka 565–0871, Japanの論文著者

論文 | ランダム

• 単結晶シリコンウエハーのミクロンサイズにおける破壊靭性評価
• マイクロサイズ試験片を用いた材料試験
• マイクロサイズ試験片を用いた材料評価試験
• アコースティック・エミッションの現状と未来
• MEMS/NEMS材料における破壊と疲労特性評価

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