安齋 享征 | ハーランラボラトリーズ株式会社

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論文 | ランダム

• 赤外線サーモグラフィによる表面近傍の微小空洞欠陥の検出
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• 赤外線サーモグラフィによる表面近傍の微小空洞欠陥の検出(マシンビジョンと外観検査)
• 砥粒加工分野を切り拓いた人々 第13話井川直哉 氏
• 赤外線サーモグラフィを用いた表面近傍の内部欠陥の検出 (第8回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集) -- (S11. 新しい計測検査技術)

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