Choi Yeontaek | National Institute for Mathematical Sciences
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概要
論文 | ランダム
- 製品と技術 非接触表面・層断面形状計測システム--光干渉方式を用いた測定技術と測定事例の紹介
- 非接触三次元表面・層断面形状計測システムによる自動車部品の評価・測定技術 (特集 自動車技術:エンジン編)
- 透過干渉法による透明膜の膜厚分布測定--光干渉式表面形状測定装置SP-700の新たな応用
- 超精密加工の形状・表面粗さ測定 (特集 工作機械のトライボロジー)
- 光干渉式表面形状測定装置SPによる微細バンプ高さの高精度管理 (特集 エレクトロニクス実装技術の現状と将来展望) -- (実装プロセス・実装設備編)