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上野 義栄 | 京都府中小企業技術センター
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京都府中小企業技術センター | 論文
実験室系X線吸収分光分析装置を用いたクロメート皮膜中クロムの価数評価及びX線光電子スペクトルとの比較検討
回折X線幅を用いた結晶子サイズの異なる二酸化チタン粉体混合物の評価
黒色三価クロム化成処理膜の特性に及ぼす亜鉛めっき条件の検討
京都府中小企業技術センター
工業材料の同時定性・定量分析へのX線回折法の利用に関する研究(3)
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