岩槻 正志 | 日本電子(株)電子光学機器技術本部

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概要

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• 同名の論文著者
• 日本電子(株)電子光学機器技術本部の論文著者

日本電子(株)電子光学機器技術本部 | 論文

• 電子プローブマイクロアナライザーによる薄膜試料の解析
• EPMAによる酸化物超電導相の分析
• 粒子の形態分析 2. 粒子形状分析 2.2 走査電子顕微鏡
• 電界放出型電子銃(FEG)のエミッタ先端曲率半径の評価
• 極低温高分解能電子顕微鏡(最近の顕微鏡)

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