Higashida Yasuhiro | Nippon Steel & Sumikin Research Institute Corporation
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概要
論文 | ランダム
- 超伝導体への電磁波の侵入と損失に及ぼす結晶粒界の影響
- 第3高調波電圧を用いる誘導法によるバルク試料の臨界電流密度の非破壊測定
- 第3高調波電圧を用いる誘導法による超電導薄膜の電流電圧特性の測定
- 超伝導薄膜における臨界電流密度と第三高調波誘導電圧のスケール則
- 誘導法による超電導薄膜の臨界電流密度の測定の温度・磁界依存性