Shin Ho | Dept. Pharmacol. Toxicol., Kyorin Univ. Sch. Med., Tokyo, Japan
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概要
論文 | ランダム
- スタックCCDの光電変換膜における欠陥密度減少に伴う画素電極端での電界集中問題とその改善
- スタックCCDの光電変換膜における欠陥密度減少に伴う画素電極端での電界集中問題とその改善
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- 単層メタル電極CCDイメージセンサの検討(固体撮像とその関連技術)
- 5-7 2/3イン200万画素スタックCCDの固定パターン雑音の低減