Iwasaki N. | National Institute of Technology, Wakayama College

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概要

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論文 | ランダム

• 二次イオン質量分析法(SIMS)によるOrchard　Leavesの定量分析
• 二次イオン質量分析法におけるダイナミック深さ測定法
• スパッタリングについて
• SIMSによる鋼中固溶炭素,窒素と水素の相互作用に関する研究
• 電子衝撃形固体イオン源

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