服部 則道 | 味の素株式会社 イノベーション研究所 基盤技術研究所 安全性研究グループ

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概要

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• 味の素株式会社 イノベーション研究所 基盤技術研究所 安全性研究グループの論文著者

論文 | ランダム

• 217.第3世代CTを利用したスキャノグラムの撮影法について(第36回総会会員研究発表)(CT2 基礎)
• サンプルタイミング摂動型シンボル同期追従回路の検討
• ARPM変調による階層ARQ伝送方式の検討
• ARPM変調における振幅比最適化の検討
• 高速引込みクロック再正回路の一検討

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