湊 誠 | 金沢工大高度材料学R&Dセ
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概要
論文 | ランダム
- 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
- 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
- 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
- D-10-4 SEU/SET対策FFを用いた遅延故障テスト容易化スキャン構造(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性(フォールトセキュア・セキュリティ・2線2相回路のテスト,VLSI設計とテスト及び一般)