Konishi Toshifumi | Tokyo Institute of Technology|NTT Advanced Technology Co.
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概要
論文 | ランダム
- 197 各機種間における^I放出γ線に対するコリメータ性能比較
- 194 コリメータ法によるポジトロン核種SPECTのペネトレーション補正
- 186 ^I-IMP非侵襲的マイクロスフェア(NIMS)法における中エネルギーコリメータ使用の有用性の検討
- 88 低エネルギーコリメータを用いた^Ga SPECTにおける均一補正の検討
- 87 低エネルギーコリメータを用いた^Ga SPECTにおける撮像条件の検討