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秋本 晃一 | NECマイクロ研
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NECマイクロ研 | 論文
29p-ZB-1 回折XAFS-"DAFS"-
14a-DH-10 Si(001)面上のGeのStranski-Krastanov成長における欠陥とアイランド構造の形成
3p-RM-7 高濃度型Si:Pの極低温電気伝導
2p-W-4 アモルファスAs-Se系の遠赤外反射スペクトル
27a-B-7 2H-NbS_2のラマン散乱
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