脇 裕之 | 岩手大学 理工学部

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概要

• 同名の論文著者
• 岩手大学 理工学部の論文著者

論文 | ランダム

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• GaAs MESFETのターンオン特性に与える基板内トラップの影響の数値解析
• ホフマン炉探訪
• リセスゲートおよび埋込みゲート構造GaAs MESFETにおけるゲートラグの解析
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