YANG Jian | Dept. Electrical Engineering, Chalmers University of Technology

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概要

• 同名の論文著者
• Dept. Electrical Engineering, Chalmers University of Technologyの論文著者

論文 | ランダム

• 半導体微細加工技術による電子部品の製造(小さく収める)
• リユースの信頼性に関する国際規格の動向(信頼性に関する国際規格の動向)
• ハンダ付け技術の向上を目指して
• 3-4 加速寿命試験データに基づく寿命推定法と最適試験計画(セッション3「試験、故障解析、部品、要素技術の信頼性、ハードウェア面、管理手法適用事例」)
• 3-3 エンドライフ評価とステップタイム試験(セッション3「試験、故障解析、部品、要素技術の信頼性、ハードウェア面、管理手法適用事例」)

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