Geissel Hans | <label>⁵</label>GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung, 64291 Darmstadt, Germany

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概要

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• <label>⁵</label>GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung, 64291 Darmstadt, Germanyの論文著者

論文 | ランダム

• 表面分析法とその応用--オ-ジェ電子分光(AES)とX線光電子分光(XPS又はESCA)を中心として
• SF_6代替ガスを適用したハイブリッド絶縁方式による絶縁耐力向上と機器断面所要寸法の評価
• GISの雷サージ領域V-t特性評価手法の検討--方形波インパルスによる定量的評価手法
• 方形波インパルスを用いたSF_6中準平等電界ギャップのV-t特性と放電進展過程の観測
• 1MV方形波インパルス電圧発生装置 "SPARK" の開発

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