杉田 有治 | 理研QBiC:理研

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概要

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論文 | ランダム

• 送配電用電線の技術動向
• 膜体構造物の抗力係数に関する研究
• in-situ 電界効果熱刺激電流法によるペンタセン/ゲート絶縁膜界面のトラップ準位密度評価
• 熱刺激電流法による水熱合成法成長ZnOバルク単結晶の深い準位に関する研究
• 高分子電荷トラップの熱刺激電流スペクトロスコピーによる評価 (Imaging Today 画像関連の計測機器とその周辺技術)

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