田口 昇 | 産総研電池技術

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• 計量標準の交際的整合化に向けてのグローバルMRA (特集 21世紀の計量標準について)
• グローバルMRAの概要 (特集 国際相互承認問題の現状とその対応)
• 光計測用635nm半導体レーザのユニット化(第2報)-試作品の性能評価と干渉計測への考察-
• 計量標準に係わる国際動向 (特集 新たな計量行政)
• 光計測用635nm半導体レーザのユニット化(第1報) -試作とその特性-

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