XIA Wei | School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China (UESTC)

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概要

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• School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China (UESTC)の論文著者

論文 | ランダム

• 電流検出型原子間力顕微鏡を用いたゲート絶縁膜の局所リーク電流評価(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
• 電子注入ストレスを加えたゲート酸化膜の電流検出型原子間力顕微鏡による解析 : ゲート絶縁膜劣化機構の微視的評価(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
• 内視鏡的切石術後の遺残結石診断に対する管腔内超音波検査
• 胆嚢疾患の造影超音波検査における病理組織学的検討
• アカイエカの体成分含量, とくに越冬雌個体の体の大きさと関連して

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