Mibu Ko | <label>⁴</label>Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Nagoya 466-8555, Japan

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概要

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論文 | ランダム

• 359 有限要素法とモアレ干渉法による電子デバイスの熱変形解析
• 524 位相シフトモアレ干渉法による電子パッケージの熱ひずみ計測
• DSPI を用いた2方向変位ベクトル同時計測装置の製作と電子デバイスの微視的計測
• ウェッジガラス板を用いた位相シフトモアレ干渉法の試み
• モアレ干渉法によるQFP,MCM電子デバイスの熱変形計測と有限要素解析

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