山本 喜久 | NTT 物性科学基礎研究所
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概要
論文 | ランダム
- Characterization of Homogeneity of Langasite Wafers Using Bulk-Wave Measurement
- この世の終わり
- 190. 捺印標本による検索をした副甲状腺腺腫の一例(頭頚部)(第32回日本臨床細胞学会総会)
- AM05-19-003 噴霧流中の渦輪構造の数値解析(燃焼・反応流のモデリングと制御1,一般講演)
- X線天文衛星の挑戦 : 新たな展開を目指す伸展式光学系と編隊飛行(日本の宇宙観測技術の最新情報)