藤倉 潤治 | 道総研上川農業試験場

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概要

• 同名の論文著者
• 道総研上川農業試験場の論文著者

道総研上川農業試験場 | 論文

• 北海道米の澱粉分子構造に及ぼす登熟温度の影響と新食味評価法に関する研究
• 北海道米の食味に関与するアミロペクチン分子の構造解析に関する研究
• 米の食味評価のためのケモメトリックス手法による澱粉のヨウ素吸収曲線の解析(品質・加工)
• 「きらら397」における登熟温度および枝梗着生位置がアミロース含有率に及ぼす影響(栽培)
• 登熟温度が米のアミロペクチン単位鎖長分布と超長鎖(LC)含量に及ぼす影響

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